nor flash 中的编程和擦除操作涉及写入数据和擦除存储单元的特定步骤。下面是nor flash编程和擦除的详细流程:
编程操作:
选择目标存储单元:控制器通过提供其地址来识别要编程的特定存储单元。
施加编程电压:将编程电压(通常高于正常工作电压)施加到选定的存储单元。该电压会产生强电场,允许电子隧道进入浮置栅极或捕获层,具体取决于特定的nor flash技术。
存储数据:所需的数据被传输到存储单元,通过捕获或充电浮动栅极或捕获层来存储数据。 该数据表示逻辑“1”或“0”,具体取决于编程机制。
验证编程数据:为了确保准确编程,控制器读取编程的存储单元并将检索到的数据与所需数据进行比较。 如果它们匹配,则认为编程过程成功。
擦除操作:
选择目标存储块:与编程不同,nor flash 中的擦除是按块执行的。控制器通过提供其地址来选择要擦除的块(由多个存储单元组成)。
应用擦除电压:将较高的电压(称为擦除电压)施加到所选存储块。该电压从浮置栅极或捕获层去除电荷或捕获的电子,从而有效地擦除存储的数据。
擦除验证:施加擦除电压后,控制器验证被擦除的存储单元是否已达到擦除状态。该验证确保存储单元已准备好用新数据进行编程。
块锁定(可选):某些 nor flash 器件允许块锁定,可以保护特定块免遭进一步擦除或编程。此功能可确保关键数据的完整性和安全性。
nor flash中的编程和擦除过程可能有特定的电压和时序要求,具体取决于设备和制造商。使用 nor flash 时,建议参考器件的数据表或编程指南以获取准确的说明。
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Nor Flash编程和擦除操作的详细流程
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