cpu、gpu 和 soc 的高密度、模块化测试
半导体制造商依靠高密度测试系统来支持其日益复杂的产品组合。ai 处理器、cpu、gpu、soc 和移动处理器正在增加更强大的功能,包括射频连接、电源管理和混合信号处理。为了支持这些不同的 ic 功能,ate 系统需要先进的 pdn 来处理各种不同的功率和电压。这些测试仪的模块化也变得至关重要,因为测试仪需要从测试 1v 下消耗 1000a 的 ai 处理器切换到混合信号 soc,而其电流仅为处理器电流的一小部分,对 emi 极为敏感。vicor 获得专利的正弦振幅转换(sac)拓扑,其本身高频下的软开关具有很低噪声,大大减少了由于高 emi 而产生的虚假测试结果。
供电网络
提升前端 ate 电源的效率是一项艰巨任务,pdn 没有尝试采用这种方法,而是构架为使用中间 48v 母线,以提高从 48v 到负载点的效率。由两个 vicor dcm3623 隔离、稳压 dc-dc 转换器模块组成的阵列可在满载时以 92.7% 的效率提供超过 600w 的功率。在同一个 pdn 中,vicor 固定比率 dc-dc 模块以 96% 的效率将 48v 转换为各种负载点要求,从 1v 到 12v。vicor 固有的低噪声 sac 拓扑结构和先进的封装技术,结合平面磁性器件和超薄外形,大大简化和改进了热管理。
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