采样保持电路之开关寄生的影响

“采样保持电路是模数转换器(adc)中最重要的电路之一。其电路中存在的寄生电容会引入时钟馈通、沟道电荷注入等非理想因素严重影响adc的整体性能。鉴于此,本文将介绍这些非理想因素产生的原因及常见的解决方法”
01采样保持电路
采样保持电路通常被用在模数转换器设计中,起到信号采集的作用。图1是一个由开关和电容组成的采样保持电路。在采样阶段,开关闭合且电容chold采集输入信号的信息。在保持阶段,开关断开chold保存采样时刻输入信号的信息,从而实现信号的采样和保持的功能。
图1 采样保持电路[1]
02开关寄生对采样精度的影响
图1所示的采样保持电路中的开关可由一个简单的mos管实现。当开关导通时,沟道内存在电荷会积累电荷qgate。开关断开后,这些电荷会流出到采样电容上从而引起采样误差。这就是 “电荷注入” 。由电荷注入产生的误差可表示为
其中,1/2是假设沟道中的一半电荷流入到采样电容上。
此外,时钟馈通效应也是引起采样误差的一个重要来源。mos管的栅漏或栅源之间存在交叠电容cov。采样结束时钟跳变时,会通过交叠电容馈通到采样电容上,从而引起采样误差。由时钟馈通而导致的误差可表示为
可见时钟馈通引入的是一个与输入信号无关的失调电压。
03解决时钟馈通和电荷注入的几种方法
1. 增加虚拟开关
如图2所示,相比于图1增加了一个额外的虚拟开关。虚拟开关的状态与采样开关的状态相反,且大小为采样开关的二分之一。当采样开关关断时,沟道电荷qgate的一半流向输出端一侧,此时虚拟开关开启并吸收采样开关释放的多余电荷。从而达到采样电容上的输入信号不被影响的目的。
该方法虽然简单但也存在一定的问题。采样开关不可能刚好向输出一侧注入一半的电荷。因此不能完全抑制电荷注入所引起的误差。
图2 增加虚拟开关
2. 底板采样
图3为底板采样技术的示意图。当采样结束时,晶体管mb首先断开,此时采样电容下极板浮空,随后另一个晶体管再关断。因为采样电容下极板浮空处于高阻状态,晶体管内电荷不会流入采样电容上,从而避免电荷注入而引起的采样误差。值得一提的是,该结构无法解决时钟馈通的问题。
图3 底板采样方法
3. 差分采样
在模拟集成电路设计中,差分是一种常见的消除偶次非线性的方法。如图4所示,实际采样电路中,不仅有时钟馈通和沟道电荷注入等非理想因素,输入信号通过mos管的漏源寄生电容cds(红色标识)也会馈通到输出端。通过增加两个常关断的mos开关大小与采样开关一致,并结合差分结构可以有效的减小输入信号馈通的影响。
该差分结构相较于底板采样等方法具有采样精度高的优点,但这是以增加功耗和面积换来的。
图4 差分采样结构

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