美国国家标准技术研究院将采用非接触式光学仪器来检测MEMS的结构

大多数用于测量微机电系统性能的仪器,误差非常巨大,以至于无法确定其标准的物理特性,如刚度。
为了解决这个问题,美国国家标准技术研究院( nist )制定了一套测试程序,采用非接触式光学仪器来检测大型mems的结构。除了mems的制造商,美国国家标准技术研究院(nist)也声称cmos半导体制造商利用它自己的测量方法,可降低失败频率,增加晶片的出产量。
美国国家标准技术研究院把非接触式光学测量仪器连接在一个基于互联网的mems计算器上。利用简单有效的光学干涉仪。这个方法使得工程师在光学干涉仪中插入测量值,从而确定其标准的机械性能。
美国国家标准技术研究院的工程师也促成了美国材料测试学会e 2245标准的制定。使用半标准ms4-1107,整个测试政权使能测量在薄膜的剩余应力。根据国际半导体设备材料产业协会(semi)的微机电系统标准ms4-1107,整个过程规定使用的是测量薄膜的残余应力的测试方法。nist宣称,这样有助于设计策略,制造工艺和后加工方法的实施,从而减少故障,增加产量,防止电迁移,应力迁移和脱层。
根据机械工程技术标准---杨氏模量,通过测量应力确定材料的弹性和刚度。对于宏观物体,杨氏模量可由推挤光束两端,测量光束的偏差算出。
芯片测量是不容许又身体接触的,nist的技术是使用一种光学测振仪,通过测量薄膜的振动频率实现对芯片的测量。杨氏模量,用来计算薄膜的共振频率。因此,在不同的载荷下,芯片制造商就可以通过杨式模量预测出该薄膜对此作出反应。
美国半导体交易组织制定了ms4 - 1107 标准。

简述系统里的负电压及正电压转换
消防应急灯购买须知及使用注意事项
电子芯闻早报:华为加入ZigBee联盟 三星Note7电池爆炸
三角缝合针刀刃口切割力测试仪
业界首款带电流控制模式和同步整流功能的LLC控制器
美国国家标准技术研究院将采用非接触式光学仪器来检测MEMS的结构
如何有效录制游戏视频?6款最佳PC和Mac游戏录制工具推荐给你
比亚迪华为推出全自动运行云轨无人驾驶系统 全球首条搭载100%自主知识产权跨座式单轨
5G时代物联网将给社会带来什么样的变革
5G无线芯片的设计挑战及芯片行业的发展趋势分析
魅蓝5s对比红米4X流畅度,3G运存和2G有何区别?
MOS管在电动车控制板中几个应用
直接迈入AI时代,就能跨越制造的本身?
有效的PCB的质量检查应注意哪些?
魅族Pro7或6月发布,舍弃万年联发科搭载高通处理器
人工智能难道真的要取代人类真实新闻吗?
重磅!SEMI\-e第五届深圳国际半导体技术暨应用展今日盛大开幕!
平头哥SSD主控芯片镇岳510性能分析
美光科技发布2019财年第一财季财报
3D视觉走向爆款有多难 图漾科技FS820定价仅5000