采用高速ADC的单事件效应（SEE）：单事件闩锁（SEL）
在本期中，我们将重点介绍单事件闩锁（sel），特别是针对高速adc的单事件闩锁（sel）。sel 类似于传统闩锁的情况，其中器件表现出异常高的电源电流，这是由从电源到地的感应路径引起的。在没有电源循环的情况下，sel 后设备将不会恢复正常运行。回想一下，单事件翻转 （seu） 和单事件瞬变 （set） 是在辐射暴露期间发生的软错误，设备通常会快速恢复。与 sel 不同，该器件不需要电源重启或器件复位即可恢复正常运行。这是通常在测试seu和set之前进行sel测试的原因之一。
在 sel 测试期间，设备外壳温度设置为 125oc和电源电流被监控，以观察是否有任何闩锁。测试运行到80 mev-cm等能量水平2/毫克，流度为107离子/厘米2.目标是确定温度和电源电压最坏情况下adc的闩锁门限。ad9246s 14位125 msps adc的see测试设置图如下所示。该测试设置用于收集ad9246s的sel、seu和set性能结果。
ad9246s 单事件效应（see）测试设置
sel测试的一般程序与ad9246s使用的程序类似。对于此设备，使用了以下过程：
给ad9246s上电，等待其达到所需的测试温度（125oc在本例中）。
选择所需的离子和入射角，使效应 let 为 80 mev-cm2/毫克。
打开离子束并观察/监控/记录ad9246s电源电流。
如果未观察到闩锁且通量达到 107离子/厘米2，则运行被视为通过。
如果测试通过，则以相同的9246 mev-cm有效let运行其余ad80s单元2/mg 从步骤 1 开始。至少应在电源上没有电流限制的情况下执行一次运行。
如果在任何运行中没有发生闩锁或破坏性事件，则进行 sel 测试。
如果ad9246s锁定，则视为运行失败。
关闭离子束，并尝试通过首先重新编程ad9246s寄存器来恢复到初始电流水平。如果失败，请关断ad9246s。
重新给ad9246s通电，检查电流电平并检查是否存在破坏性锁存器。
继续进行 sel 表征。
ad9246s的sel测试结果如下表所示。测试的四种不同的ad9246s器件均未表现出闩锁迹象，有效通量为107离子/厘米2高达 80 mev-cm 的 let2/毫克。
表1
ad9246s 辐射 sel 测试结果
如上述测试程序步骤所述，ad9246s的电源电流在器件受到离子束照射时受到监控。对于所用测试板上的ad9246s，电源为avdd、drvdd和drvdd_hk（drvdd电源用于测试期间的内务管理）。执行sel测试时，ad9246s的电源设置为最大值，avdd为1.9v，drvdd和drvdd_hk为3.6v。当器件暴露在离子束下时，电源电流被监控闩锁。在序列号为9246的ad39s器件上进行典型sel测试的avdd和drvdd的电源电流如下图所示。
sel 测试运行期间的 ad9246s drvdd 电源电流
请注意，在sel测试运行期间，ad9246s电源电流与其标称值的变化很小。如上表1所示，在测试期间未观察到闩锁。ad9246s在本测试中表现非常出色，在80 mev-cm的let下没有闩锁2/毫克输出至总通量为 107离子/厘米2.
查看特定设备的 see 时，执行 sel 测试是一个很好的第一个测试。在某些情况下，闩锁事件可能不是灾难性的，但在许多情况下，sel 事件可能是破坏性的，因此通过此测试开始对单个事件效应进行辐射测试是有意义的。如果器件在低let值下具有破坏性闩锁，则很可能不适合许多空间应用。通常可以从其他see事件（如seu和set）进行恢复，但破坏性闩锁通常是不可恢复的，因为很多时候设备都无法使用。如果器件在较低的let值下出现早期闩锁，则表明该器件可能不适合空间应用。但是，到目前为止，我们看到ad9246s在80 mev-cm的let下没有闩锁。2/mg，这使我们在ad9246s的单事件效应测试中有一个良好的开端。在我即将发布的博客中，我们将继续研究高速adc的see，同时将讨论转移到seu和set上。正如我们所讨论的，这些事件通常不像 sel 事件那样具有破坏性。
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给ad9246s上电，等待其达到所需的测试温度（125oc在本例中）。
选择所需的离子和入射角，使效应 let 为 80 mev-cm2/毫克。
打开离子束并观察/监控/记录ad9246s电源电流。
如果未观察到闩锁且通量达到 107离子/厘米2，则运行被视为通过。
如果测试通过，则以相同的9246 mev-cm有效let运行其余ad80s单元2/mg 从步骤 1 开始。至少应在电源上没有电流限制的情况下执行一次运行。
如果在任何运行中没有发生闩锁或破坏性事件，则进行 sel 测试。
如果ad9246s锁定，则视为运行失败。
关闭离子束，并尝试通过首先重新编程ad9246s寄存器来恢复到初始电流水平。如果失败，请关断ad9246s。
重新给ad9246s通电，检查电流电平并检查是否存在破坏性锁存器。
继续进行 sel 表征。
ad9246s的sel测试结果如下表所示。测试的四种不同的ad9246s器件均未表现出闩锁迹象，有效通量为107离子/厘米2高达 80 mev-cm 的 let2/毫克。
表1
ad9246s 辐射 sel 测试结果
如上述测试程序步骤所述，ad9246s的电源电流在器件受到离子束照射时受到监控。对于所用测试板上的ad9246s，电源为avdd、drvdd和drvdd_hk（drvdd电源用于测试期间的内务管理）。执行sel测试时，ad9246s的电源设置为最大值，avdd为1.9v，drvdd和drvdd_hk为3.6v。当器件暴露在离子束下时，电源电流被监控闩锁。在序列号为9246的ad39s器件上进行典型sel测试的avdd和drvdd的电源电流如下图所示。
sel 测试运行期间的 ad9246s drvdd 电源电流
请注意，在sel测试运行期间，ad9246s电源电流与其标称值的变化很小。如上表1所示，在测试期间未观察到闩锁。ad9246s在本测试中表现非常出色，在80 mev-cm的let下没有闩锁2/毫克输出至总通量为 107离子/厘米2.
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