Micro LED行业当前短板明显成本和良率是两座大山
micro led显示被誉为次世代的显示技术，它与lcd，oled等显示技术相比，在功耗、使用寿命、亮度、对比度等指标上有明显优势。简而言之，micro led显示技术是目前最完美的显示技术之一。
显示技术的比较
图源：高工led
回顾显示行业发展史，存在明显的木桶效应，micro led行业需警惕！ 从供给-需求侧角度来看，回顾显示行业发展历程，我们会发现“技术进步为显示产业发展带来诸多可能性”，但是“下游市场的需求才是真正推动行业快速发展的最重要因素”。
显示技术生命周期 首先是早期的crt技术。crt（阴极射线管）技术具有低成本高画质的特点，而且耐用性不错，但是crt显示产品体积大、笨重，无法做成轻薄型产品，所以仅仅在tv市场“昙花一现”。但是下游市场的需求是不断小型化、轻便化，所以crt无法适应手机、pc移动互联时代，自然而然就退出了历史舞台。
crt显示器 图源：中关村在线 crt技术之后，出现了pdp（等离子体显示）技术。pdp电视具有薄、大尺寸和良好画质等特点，但是因为pdp技术只掌握在日本少数几个厂家手里，产业链封闭，影响了技术升级，pdp电视耗电量高、生产成本高、像素精细化困难、尺寸单一等缺点并未很好的改善，因此pdp技术并未进入主流市场。 与pdp技术同时期的是lcd（液晶）技术，与crt产品相比，lcd产品耗电量更低，而且能够实现轻薄化，最关键的是随着技术越来越成熟，lcd产品成本非常低廉。另外，与pdp电视相比，lcd电视尺寸覆盖面更全，而pdp电视尺寸单一，加上lcd技术更加开放，产业链协同发展，lcd技术成为了过去主流的显示技术。迄今为止，在对画质性能要求不苛刻的细分市场，譬如消费级电视机，lcd仍占据主导地位；但是对于小尺寸超高清应用，譬如手机等，lcd画质性能还有待提升空间。 随着下游市场对小型化、柔性、高清等需求日益频繁，oled突出重围，但是oled产品pwm技术带来的闪屏现象对人眼观看舒适度以及oled显示产品寿命产生了较大影响，加上下游市场不断产生8k超高清、超大屏显示、透明显示、柔性显示、低功耗等需求，micro led显示技术以及其过渡技术（mini led显示技术）逐渐进入市场。 回顾显示行业发展的历程，没有任何技术能够永葆青春，“适者生存，不适者淘汰”是亘古不变的哲理。对于micro led从业者而言，我们要警惕出现“木桶理论”中的“短板决定储水量”情况。
micro led行业当前短板明显成本和良率是两座大山 虽然micro led行业备受关注，但是目前micro led技术尚不成熟，最大的瓶颈在成本和良率，这也是影响micro led显示技术大规模商用化的最大因素。一提到良率和成本，人们往往联想到巨量转移技术，但是“转移不知道好坏的micro leds，是没有意义的”。如果转移之前不先剔除不良芯片，相当于不良芯片也会经历后续生产过程，这无疑增加了巨大成本。另外，良率的计算是建立在稳定可靠的检测技术上的。没有高重复性的检测设备，计算良率是没有意义的。所以巨量检测技术同样需要得到行业的重视和关注。 micro led行业本质上是ic、display和led行业的交叉行业，因此检测技术可以相互借鉴，但是又不完全相同。micro led cow wafer上有百万甚至千万颗晶粒，micro led cow wafer检测速度无法达到ic领域bare wafer inspection几秒钟1片的检测速度，而且传统的自动光学检测类设备只能检查外观缺陷，但是实际上不同厂家允收标准各有不同，有些厂家认为存在少量不影响发光质量的particle是符合允收标准的，所以仅靠aoi类设备完成micro led巨量检测是不现实的，但是对于早期研发阶段，aoi类设备确实有很大帮助。对于led行业而言，电致发光检测方法因为可以测量工作状态下led的光学参数（wld，色坐标等等）和电学参数（vf1，ir等），往往被当作金标准。 但是micro led wafer上晶粒太多了，如果逐颗点亮所有晶粒，需要花几十年的时间，因此电致发光检测设备无法实现100%检测；即使采用探针组，也会受困于高昂的探针耗材成本、仍然很长的检测时间以及复杂的校准过程；此外，探针组式的并联el设备，无法测量单颗micro led的光谱，这也给品质判定带来困难。整体而言，micro led并没有一款成熟的巨量检测方案。
滨松microled巨量检测设备解决行业巨量检测烦恼 滨松针对行业痛点，发布了一款无损、无接触式、高稳定性、快速巨量检测设备minytm pl。minytm pl利用半导体材料的光致发光现象，对micro led材料缺陷进行全自动检测，一次性可以完成整片晶圆上所有micro led晶粒的发光强度和波长测量，通过与设定阈值作比较，可以判断每颗晶粒的好坏。 minytm pl具备全自动输出每一颗晶粒的亮度、波长、好坏信息，以及不良晶粒的外观图像的功能，并且可以方便地与巨量转移设备、修复设备等其他设备配合使用，从而提高micro led wafer/chip、display产品的良率。与其它micro led检测设备相比，minytm pl有如下优势：业界领先的稳定性（重复性）、可以同时测量波长和亮度、成像式光致发光检测、可与el设备结果进行匹配、可实现整片晶圆的检测（圆形、方形）、业界领先的检测速度等特点。此外，minytm pl也同样适用于显示端的制造过程。
滨松micro led巨量检测设备minytm pl 为了方便研究人员对单颗micro led器件的光学特性、电学特性进行深入研究，滨松推出了micro led电致发光（el）检测设备μmls-2000。μmls-2000采用die to die方式逐一检测micro led的电学特性（如vf1、vf2、ir等）和光学特性（wld、cx、cy、cd/m2等），能够帮助micro led技术早日从实验室走入量产线。
micro led电致发光检测设备 对于micro led显示产品，驱动电路漏电将导致显示产品发生故障，甚至可能出现损坏。实际上漏电现象是集成电路领域经常出现的故障之一，漏电往往是因为结构或者材料异常所致。 滨松在集成电路领域有超过30年的电性失效分析经验，phemos系列emmi显微镜在电性失效分析领域具有极高的市场占有率。（未来我们将单独介绍phemos系列emmi显微镜产品）。过去我们采用phemos产品对逻辑电路、存储芯片、功率器件等芯片进行缺陷快速定位，现在我们发现microled显示产品可以采用类似的方案，实现快速质检，这位micro led显示制造失效分析打开了大门。
用于芯片失效分析的phemos系列emmi显微镜
关于多跳通信和单跳通信两种方式有什么区别
工业企业数字化转型的好处和难点
ips硬屏的优点_ips硬屏缺点
回顾赛灵思五大产品新闻
Python使用过程中用一行代码实现过哪些激动人心的功能呢？
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英国SST螺纹式高温氧化锆氧气传感器在制氧控制系统中的应用
智能穿戴材料技术革新可拉伸电热致变色纤维介绍
小米MIX 3设计图曝光：配备屏下指纹识别和弹出式摄像头
驱动高频亥姆霍兹线圈的三种方法探讨研究
众多无人机新品亮相CES 2019
禾多科技正式加入AUTOSAR，开启自动驾驶研发全球化征程
一项利用昆虫大脑来控制机器人的提案
变频电机的标准
2023年元宇宙五大趋势已定，如何夺得先机？
云计算模型PaaS是什么？有什么特点？
负反馈电路的四种组态介绍
RF充电不同于线圈接触无线充电
2023电子峰会展商名单公布
语音模块让吸顶灯听懂“人类语言”
显示技术的比较
图源：高工led
回顾显示行业发展史，存在明显的木桶效应，micro led行业需警惕！ 从供给-需求侧角度来看，回顾显示行业发展历程，我们会发现“技术进步为显示产业发展带来诸多可能性”，但是“下游市场的需求才是真正推动行业快速发展的最重要因素”。
显示技术生命周期 首先是早期的crt技术。crt（阴极射线管）技术具有低成本高画质的特点，而且耐用性不错，但是crt显示产品体积大、笨重，无法做成轻薄型产品，所以仅仅在tv市场“昙花一现”。但是下游市场的需求是不断小型化、轻便化，所以crt无法适应手机、pc移动互联时代，自然而然就退出了历史舞台。
crt显示器 图源：中关村在线 crt技术之后，出现了pdp（等离子体显示）技术。pdp电视具有薄、大尺寸和良好画质等特点，但是因为pdp技术只掌握在日本少数几个厂家手里，产业链封闭，影响了技术升级，pdp电视耗电量高、生产成本高、像素精细化困难、尺寸单一等缺点并未很好的改善，因此pdp技术并未进入主流市场。 与pdp技术同时期的是lcd（液晶）技术，与crt产品相比，lcd产品耗电量更低，而且能够实现轻薄化，最关键的是随着技术越来越成熟，lcd产品成本非常低廉。另外，与pdp电视相比，lcd电视尺寸覆盖面更全，而pdp电视尺寸单一，加上lcd技术更加开放，产业链协同发展，lcd技术成为了过去主流的显示技术。迄今为止，在对画质性能要求不苛刻的细分市场，譬如消费级电视机，lcd仍占据主导地位；但是对于小尺寸超高清应用，譬如手机等，lcd画质性能还有待提升空间。 随着下游市场对小型化、柔性、高清等需求日益频繁，oled突出重围，但是oled产品pwm技术带来的闪屏现象对人眼观看舒适度以及oled显示产品寿命产生了较大影响，加上下游市场不断产生8k超高清、超大屏显示、透明显示、柔性显示、低功耗等需求，micro led显示技术以及其过渡技术（mini led显示技术）逐渐进入市场。 回顾显示行业发展的历程，没有任何技术能够永葆青春，“适者生存，不适者淘汰”是亘古不变的哲理。对于micro led从业者而言，我们要警惕出现“木桶理论”中的“短板决定储水量”情况。
micro led行业当前短板明显成本和良率是两座大山 虽然micro led行业备受关注，但是目前micro led技术尚不成熟，最大的瓶颈在成本和良率，这也是影响micro led显示技术大规模商用化的最大因素。一提到良率和成本，人们往往联想到巨量转移技术，但是“转移不知道好坏的micro leds，是没有意义的”。如果转移之前不先剔除不良芯片，相当于不良芯片也会经历后续生产过程，这无疑增加了巨大成本。另外，良率的计算是建立在稳定可靠的检测技术上的。没有高重复性的检测设备，计算良率是没有意义的。所以巨量检测技术同样需要得到行业的重视和关注。 micro led行业本质上是ic、display和led行业的交叉行业，因此检测技术可以相互借鉴，但是又不完全相同。micro led cow wafer上有百万甚至千万颗晶粒，micro led cow wafer检测速度无法达到ic领域bare wafer inspection几秒钟1片的检测速度，而且传统的自动光学检测类设备只能检查外观缺陷，但是实际上不同厂家允收标准各有不同，有些厂家认为存在少量不影响发光质量的particle是符合允收标准的，所以仅靠aoi类设备完成micro led巨量检测是不现实的，但是对于早期研发阶段，aoi类设备确实有很大帮助。对于led行业而言，电致发光检测方法因为可以测量工作状态下led的光学参数（wld，色坐标等等）和电学参数（vf1，ir等），往往被当作金标准。 但是micro led wafer上晶粒太多了，如果逐颗点亮所有晶粒，需要花几十年的时间，因此电致发光检测设备无法实现100%检测；即使采用探针组，也会受困于高昂的探针耗材成本、仍然很长的检测时间以及复杂的校准过程；此外，探针组式的并联el设备，无法测量单颗micro led的光谱，这也给品质判定带来困难。整体而言，micro led并没有一款成熟的巨量检测方案。
滨松microled巨量检测设备解决行业巨量检测烦恼 滨松针对行业痛点，发布了一款无损、无接触式、高稳定性、快速巨量检测设备minytm pl。minytm pl利用半导体材料的光致发光现象，对micro led材料缺陷进行全自动检测，一次性可以完成整片晶圆上所有micro led晶粒的发光强度和波长测量，通过与设定阈值作比较，可以判断每颗晶粒的好坏。 minytm pl具备全自动输出每一颗晶粒的亮度、波长、好坏信息，以及不良晶粒的外观图像的功能，并且可以方便地与巨量转移设备、修复设备等其他设备配合使用，从而提高micro led wafer/chip、display产品的良率。与其它micro led检测设备相比，minytm pl有如下优势：业界领先的稳定性（重复性）、可以同时测量波长和亮度、成像式光致发光检测、可与el设备结果进行匹配、可实现整片晶圆的检测（圆形、方形）、业界领先的检测速度等特点。此外，minytm pl也同样适用于显示端的制造过程。
滨松micro led巨量检测设备minytm pl 为了方便研究人员对单颗micro led器件的光学特性、电学特性进行深入研究，滨松推出了micro led电致发光（el）检测设备μmls-2000。μmls-2000采用die to die方式逐一检测micro led的电学特性（如vf1、vf2、ir等）和光学特性（wld、cx、cy、cd/m2等），能够帮助micro led技术早日从实验室走入量产线。
micro led电致发光检测设备 对于micro led显示产品，驱动电路漏电将导致显示产品发生故障，甚至可能出现损坏。实际上漏电现象是集成电路领域经常出现的故障之一，漏电往往是因为结构或者材料异常所致。 滨松在集成电路领域有超过30年的电性失效分析经验，phemos系列emmi显微镜在电性失效分析领域具有极高的市场占有率。（未来我们将单独介绍phemos系列emmi显微镜产品）。过去我们采用phemos产品对逻辑电路、存储芯片、功率器件等芯片进行缺陷快速定位，现在我们发现microled显示产品可以采用类似的方案，实现快速质检，这位micro led显示制造失效分析打开了大门。
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