IGBT结温估算—(二)IGBT/Diode损耗的计算

(二)igbt/diode损耗的计算
igbt模块损耗包含igbt损耗和diode损耗两部分,具体如下:
①igbt导通损耗
②igbt开通损耗eon
③igbt关断损耗eoff
④diode导通损耗
⑤diode反向恢复损耗err
其中,igbt/diode导通特性可通过相关静态测试设备获得,igbt开关损耗和二极管反向恢复损耗通过双脉冲测试获得。
损耗计算有如下两种方案:
基于瞬时电流的瞬时损耗计算以开关频率的周期间隔,根据瞬态电流,计算每个开关周期内的igbt/diode损耗。
① igbt导通损耗
duty为占空比;i(t)为当前电流;
vce(i(t),tj)为静态测试得到的igbt导通时的管压降,与流过的电流和结温有关
② igbt开关损耗
eon+off(i(t))为igbt的实时开通和关断损耗之和;fsw为开关频率
③ diode导通损耗
vf(i(t),tj)为静态测试得到的二极管导通时的两端电压,与流过的电流和结温有关
④ diode反向恢复损耗err
fsw为开关频率;err(i(t))为diode反向恢复损耗,与流过的电流和结温有关
基于周期性的平均损耗计算以当前电流矢量的幅值,计算其作用一个工频周期的igbt/diode平均损耗
① igbt导通损耗
m : 调制度;cos:功率因数;ipk:电流矢量的幅值
② igbt开关损耗
③ diode导通损耗
m : 调制度;cos:功率因数;ipk:电流矢量的幅值
④ diode反向恢复损耗err
err(ipk):一个工频周期内的平均反向恢复损耗

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