关于AURIX开发板的性能分析和应用介绍
问题1：读擦除后的flash区域会卡死
首先遇到的问题是，在调试状态下检验部分程序(即读flash)能够正确执行，但在非调试状态会卡死在读指令。后来知道调试状态的flash读其实读的是ram。在非调试状态读flash引起了trap总线错误。
在初始化阶段通过设置marp.trapdis位可以禁止这个错误。
问题2：flash擦除后个别位非0
在调试或非调试状态，都发现flash中没有写入数据的应用程序区域中不是全0。即pflash擦除后，个别bit位确实非0. 由于存在所述问题，因而在bootloader下载程序时，不能只校验求和app程序数据，还需加和app程序起始和终止地址之间的空白区域。
程序研究中发现： 1.每次擦除后，非0位的位置是固定的；2.擦除后的非0位，是可以通过写命令来写0的。
在论坛和群里咨询了很多人，有几个同行业遇到了这个情况，但因为程序能正确执行，就没在意这个问题了。
后来在英飞凌官网咨询了技术支持工程师，得到的邮件答复说是ecc保护引起的，可以通过使用illd库自带的校验函数ifxflash_eraseverifymultiplesectors(dwsectoraddr, numsector);进行检验。我进行了校验，检验结果是无错的(内存区域非全0则报错)。
所以我改了btld工程里的刷写程序，之前为在刷写工程中求和烧写的应用程序数据作为存入eeprom里的值；现在改为：在刷写完成后，求和整个应用程序地址区域的值作为存入eeprom里的值。
来自生态圈用户linjun
测试评估套件tc-234开箱
到手的tc-234如下图。
1 评估套件概述
tc234kit 评估套件是面向 infineon aurix 单片机——tc234初学者的完整开发工具包，通过评估套件中的开发板、使用说明书、多媒体教程和入门例程，您可以细致的了解 tc234 的功能、原理和工作特性，循序渐进的学习和掌握 tc234的软硬件开发技术，先于目标产品的硬件制作，进行软件评估和算法验证，从而加速产品开发进程。评估套件包括评估板、wiggler 仿真器、资料光盘和使用说明书等，具体如下：
1 评估板
tc234kit 评估板，没有提供12v/1.3a ac-dc电源和usb线缆。
2 评估板简介
tc234 评估板，默认 mcu 型号为 sak-tc234lp-32f200f，通过 tc234 丰富的片上资源以及电路板上的外wei电路，可以对 tc234 处理器的性能资源以及主要外设进行评估和验证。板上有符合安全功能（iso26262）要求的电源芯片tlf35584，有助于加速功能安全产品的软硬件开发。另外，通过扩展接口，用户可以自行设计外wei电路，验证tc234所提供的其它功能。
3 tc234评估板具有以下资源：
处理器：tc234，最高主频 200mhz
tricore? dsp运算功能
集成锁步核（lockstep） ，便于实现功能安全应用
程序存储器：高达 2mb的片上程序flash
数据存储器：192kb 本地数据ram
1 路 10/100 mbps 半双工或全双工以太网 phy 芯片 pef7071
1 路 can 通讯接口，带驱动器（tle6250gv33）
1 路 lin 通讯接口，带驱动器（tle7259-2ge）
4×led 可编程指示灯，可做状态显示
1×3.3v电源指示灯
2×40 针外部扩展口（数据、地址、控制、gpio、a/d 等）
板上集成dap电路，通过 mini usb 连接电脑进行仿真调试
dap 仿真调试接口
支持功能安全的电源系统芯片 tlf35584
dc8~15v 电源输入
4 tc234的典型应用有：
发动机管理系统（汽油机、柴油机）
变速箱控制单元
电动汽车和混合动力汽车整车控制器（vcu）
电动汽车电机控制器（mcu）
电池管理系统（bms）
dcdc控制器和充电机（obc）
力抗OPPO，华为G9 Plus评测
港口码头专用扬尘在线监测设备
AX58100 + STM32F303RE MCU 马达控制参考设计指南
深度剖析锂电池制造工艺与物料清单成本
联想Z5s真机曝光 这是一款怎样的手机
关于AURIX开发板的性能分析和应用介绍
射频电路电源设计的13个要点
京东和美团已选用NVIDIA Jetson AGX Xavier 平台
欧盟反倾销 TD-LTE不应成为政策博弈的牺牲品
1n4148W二极管的特点和参数
汽车销售市场正在逐步回温，一定程度上将带动LED车灯市场回升
选择地坪防腐材料需要注意哪些问题
欧菲光主动“瘦身”：剥离子公司轻装上阵
本田缤智、东风劲客等合资小型SUV市场正火热，日系“三小强”就差C-HR了
郭明錤： iPhone 13 首度采用电池软板技术 节省内部空间与降低成本
意法半导体推出全新故障管理芯片LBP01
5G是如何计费的？
Waymo自主驾驶汽车公路测试里程超2000万英里，用18个月翻倍
2020年以后的区块链游戏会是怎样的
脉宽调制驱动原理
首先遇到的问题是，在调试状态下检验部分程序(即读flash)能够正确执行，但在非调试状态会卡死在读指令。后来知道调试状态的flash读其实读的是ram。在非调试状态读flash引起了trap总线错误。
在初始化阶段通过设置marp.trapdis位可以禁止这个错误。
问题2：flash擦除后个别位非0
在调试或非调试状态，都发现flash中没有写入数据的应用程序区域中不是全0。即pflash擦除后，个别bit位确实非0. 由于存在所述问题，因而在bootloader下载程序时，不能只校验求和app程序数据，还需加和app程序起始和终止地址之间的空白区域。
程序研究中发现： 1.每次擦除后，非0位的位置是固定的；2.擦除后的非0位，是可以通过写命令来写0的。
在论坛和群里咨询了很多人，有几个同行业遇到了这个情况，但因为程序能正确执行，就没在意这个问题了。
后来在英飞凌官网咨询了技术支持工程师，得到的邮件答复说是ecc保护引起的，可以通过使用illd库自带的校验函数ifxflash_eraseverifymultiplesectors(dwsectoraddr, numsector);进行检验。我进行了校验，检验结果是无错的(内存区域非全0则报错)。
所以我改了btld工程里的刷写程序，之前为在刷写工程中求和烧写的应用程序数据作为存入eeprom里的值；现在改为：在刷写完成后，求和整个应用程序地址区域的值作为存入eeprom里的值。
来自生态圈用户linjun
测试评估套件tc-234开箱
到手的tc-234如下图。
1 评估套件概述
tc234kit 评估套件是面向 infineon aurix 单片机——tc234初学者的完整开发工具包，通过评估套件中的开发板、使用说明书、多媒体教程和入门例程，您可以细致的了解 tc234 的功能、原理和工作特性，循序渐进的学习和掌握 tc234的软硬件开发技术，先于目标产品的硬件制作，进行软件评估和算法验证，从而加速产品开发进程。评估套件包括评估板、wiggler 仿真器、资料光盘和使用说明书等，具体如下：
1 评估板
tc234kit 评估板，没有提供12v/1.3a ac-dc电源和usb线缆。
2 评估板简介
tc234 评估板，默认 mcu 型号为 sak-tc234lp-32f200f，通过 tc234 丰富的片上资源以及电路板上的外wei电路，可以对 tc234 处理器的性能资源以及主要外设进行评估和验证。板上有符合安全功能（iso26262）要求的电源芯片tlf35584，有助于加速功能安全产品的软硬件开发。另外，通过扩展接口，用户可以自行设计外wei电路，验证tc234所提供的其它功能。
3 tc234评估板具有以下资源：
处理器：tc234，最高主频 200mhz
tricore? dsp运算功能
集成锁步核（lockstep） ，便于实现功能安全应用
程序存储器：高达 2mb的片上程序flash
数据存储器：192kb 本地数据ram
1 路 10/100 mbps 半双工或全双工以太网 phy 芯片 pef7071
1 路 can 通讯接口，带驱动器（tle6250gv33）
1 路 lin 通讯接口，带驱动器（tle7259-2ge）
4×led 可编程指示灯，可做状态显示
1×3.3v电源指示灯
2×40 针外部扩展口（数据、地址、控制、gpio、a/d 等）
板上集成dap电路，通过 mini usb 连接电脑进行仿真调试
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