来源:筑波科技
筑波科技(ace solution)与美商泰瑞达(teradyne)携手合作,推出ets gan mos、power module、igbt测试整合方案,为半导体行业市场带来突破性的竞争优势。半导体功能测试(ft)向来需要克服各种挑战,包括复杂的案例设计、执行和系统维护、数据分析管理,以及对测试环境稳定性的高度要求。如何以单一机台实现cp与ft测试的一机多用,实现dut批次特性验证,产线大批量生产並兼顾「动态和静态」测试,成为了业界关注的焦点。
ets 动态测试整合方案结合多种专为ipm/pim测试而设计之硬体配置(包括teradyne ets-88、pdu、oscilloscope、lcr meter和test head),ets-88拥有双扇区设计,为系统带来高度灵活性,使其能在lab环境下验证cp&ft。该方案集成动态rdson测试和ac测试功能,其独特一体化测试头设计,更在静动态测试实现重大突破,确保高度的稳定整合与便利。
该方案展现业界领先的多项优势:dc测试提供1000v/100a (option: 3kv/1ka)、iv source (12a)、ac测试(2kv/2ka)、sc测试(8ka)、支持动态rdson、至多10组的多脉冲测试、动静一体式的测试头、小于20nh的测试头杂散电感、最小的电流精度na等,同时提供多site的ft测试和cp测试,搭配标准软件客制化,整体开发周期短于两个月,同时能够获得本地服务支持。总体而言,ets gan mos ft以其价格合理、灵活性高和一体化整合等特点,为客户带来全新测试体验。
透过与泰瑞达ets的合作,筑波科技为客户提供全面的解决方案,实现高效、高便捷性的测试。ets gan mos整合四大关键性能:业界领先的高测试效率、100%高稳定性、灵活高效的动态测试性能,以及自主研发的便捷使用及调适功能软件。这些性能实现重复循环测试,支持任意脉冲数开关测试,实现不同电流等级开关参数的一次性测试,不影响测试时间。此外,还支持多模式的短路电流测试,可实现上下管单管短路和上下管直通短路测试,并可选择vin和itrip(csc)作为关断信号,测试程序的自动转载及数据输出工具一键操作,在批次测试结束时自动生成excel格式数据,实现继电器的可视化调适和寿命管控,以及测试项目的快速选择工具。
筑波科技结合泰瑞达ets在全球超过6600台以上的装机量市场优势,共同提供软件客制化整合策略:融合方案整合设计(探针台/卡、分选机、load board、socket之一站式ate连接dut设计)、特殊环境模拟设备、ets系列、研发类one box机台,实现ac to dc一体测试(ac/dc),现在到未来的一机实现(650 vs 3kv),单工位到多工位的一架多位(1~16 site),从研发到量产(cp/ft/module)、单机到整合(customized software)等全方位方案。筑波科技在台湾及中国深圳设有半导体工程中心,可提供本地化的即使服务。
关于筑波科技(ace solution)
筑波科技成立于2000年,位于台湾新竹,在中国苏州和深圳设有分公司。我们的使命是提供订制的测试解决方案,以满足电气元件、设备和系统制造商的客户需求,通过合作伙伴提供技术解决方案。我們专注于射频、毫米波和太赫茲领域,拥有专业的技术支援团队,提供专业、创新和多功能的综合技术和解决方案。
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