GaN MEMS/NEMS应变调控谐振器研究

以gan为代表的第三代半导体具有高击穿电场,高电子饱和速度,高频和高功率等特性,在射频和电力电子器件领域具有巨大的性能优势。
近日,第九届国际第三代半导体论坛(ifws)&第二十届中国国际半导体照明论坛(sslchina)于厦门召开。期间,“氮化镓功率电子器件技术分论坛”上,日本国立材料研究所独立研究员桑立雯带来了“gan mems/nems应变调控谐振器”的主题报告,分享了最新研究成果。
跟传统的si基电子器件相比,利用algan/gan制备的高电子迁移率晶体管可以提供10倍高的功率密度,且多以结区热点的形式出现,使得器件的有效散热成为制约其性能进一步提升的主要瓶颈。金刚石具有超高的热导率,是电子器件散热的理想导热材料。但是由于金刚石和gan之间存在较大的晶格失配和热失配,热声子散射导致界面热阻增加。
研究涉及用于mems/nems的gan或hemt、用于高速通信的mems振荡器、硅基mems上gan的结构与制备、结构和应变分析、硅释放前后gan中的应变、谐振频率和q测量、共振模式、rt条件下的应变稀释能量耗散,弯曲模式:rt下的共振特性,模拟共振模式形状,高温下的应变稀释能量耗散,与其他谐振器的比较,频率温度系数(tcf),屈曲模式:频率稳定机制等。
研究制作了硅上gan双箝位mems谐振器。研究结果显示,高q和低tcf都可以达到600k;预应力增加了储存的能量,导致高q;低tcf是高t时内部热应力自补偿的结果。通过应变工程,硅上gan有望用于高性能的微机电系统/nems器件。


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