教你怎么使用R&S的网分，去嵌探针测试影响
探针去嵌准备工作
1：一台r&s 网络分析仪
2：高频探针
3：高频探针出厂s参数
去嵌是一种高频测试中常用的技术，旨在消除测量中探针或连接线等外部元件的影响，以便更准确地测量被测试器件的性能。下面是进行去嵌的基本步骤：
获取s参数：首先，需要获取探针的s参数。这些s参数描述了探针在不同频率下的传输特性，包括反射系数和传输损耗等。
测量被测试器件：使用探针对被测试器件进行测量。这些测量结果会包含探针和被测试器件的组合效果，无法准确反映出被测试器件的真实性能。
应用s参数：将探针的s参数应用于测量数据。通过将探针的影响从测量数据中去除，可以得到被测试器件在没有探针影响的情况下的性能。
分析结果：分析去嵌后的测量数据，这将提供更准确、更可靠的关于被测试器件本身特性的信息。
以下为去嵌过程实际操作
使用r&s 网络分析仪导入探针测得的s参数
gsg探针去嵌过程
步骤1：
点击offset embed进入去嵌模块
步骤2：
选择单端探针模块（根据所需去嵌的探针规格进行选择）
步骤3：
先导入port1端口
步骤4：
选择探针本身的s参数数据 （以gsg-600um探针为例） ，后缀-1探针文件
步骤5：
** port1完成后， 选择port2端口**
步骤6：
** 选择探针本身的s参数数据（以gsg-600um探针为例）， 选择后缀-2探针文件**
步骤7：
以上操作都已完成后， 勾选激活， 即可显示去嵌后的探针参数
步骤8：
去嵌完成，插损全部归零，基本都在0.1db范围内
步骤9：
探针插损，去嵌后与去嵌前的数据对比，插损基本都已归零
步骤10：
探针回损，去嵌后与去嵌前对比，回损与之前几乎保持一致
结论
采用探针去嵌技术，能够显著提升高频测试的准确性和便捷性。我们的方法十分简便，只需在出厂时获得的探针s参数的支持下，即可进行操作。
通过先对探针进行校准，获取其s参数，我们能够深入了解探针在测试中的影响。这些s参数涵盖了探针的传输特性，包括损耗和反射等信息。将这些参数应用于实际测量数据中，可以消除探针带来的误差，确保我们测量的是被测试器件的真实性能。
我们的方法不仅节省时间，还大大提高了测试的精确性。无论是射频电路还是微波器件，都能从中受益。
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测量被测试器件：使用探针对被测试器件进行测量。这些测量结果会包含探针和被测试器件的组合效果，无法准确反映出被测试器件的真实性能。
应用s参数：将探针的s参数应用于测量数据。通过将探针的影响从测量数据中去除，可以得到被测试器件在没有探针影响的情况下的性能。
分析结果：分析去嵌后的测量数据，这将提供更准确、更可靠的关于被测试器件本身特性的信息。
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** 选择探针本身的s参数数据（以gsg-600um探针为例）， 选择后缀-2探针文件**
步骤7：
以上操作都已完成后， 勾选激活， 即可显示去嵌后的探针参数
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步骤10：
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结论
采用探针去嵌技术，能够显著提升高频测试的准确性和便捷性。我们的方法十分简便，只需在出厂时获得的探针s参数的支持下，即可进行操作。
通过先对探针进行校准，获取其s参数，我们能够深入了解探针在测试中的影响。这些s参数涵盖了探针的传输特性，包括损耗和反射等信息。将这些参数应用于实际测量数据中，可以消除探针带来的误差，确保我们测量的是被测试器件的真实性能。
我们的方法不仅节省时间，还大大提高了测试的精确性。无论是射频电路还是微波器件，都能从中受益。
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