liv 即光电特性,是验证激光二极管、探测器性能的普遍的方法。在晶圆、切割、管芯、封装后老化测试过程中,为降低生产成本同时增加产品吞吐量,快速可靠的liv测试系统对制造光电器件的工厂是很重要的。
根据laser diode工作原理,通常技术人员要用到电流源来驱动 ld 工作,产生光的同时用光功率计测量光功率来完成liv特性测试。在不同的测试阶段例如chip 测试,技术人员将电流源、电压表、电流表、开关、同步触发单元、光功率计集成起来才能完成测试,同时老化测试前后需要将每个管芯或模块的测试数据进行比对,大大增加了系统的复杂程度,影响了测试精度和数据可靠性。
liv测试系统采用国产s型数字源表为核心,结合测试软件以及第三方设备积分球探测器完成ld的liv测试。系统结构简单、精度高、可靠性好、速度快,提高生产效率的同时也增加了测试精度和可靠性,并且降低了测试成本。
需要测试的参数:
驱动电流i,正向压降vf
光功率po
阈值电流ith
拐点ikink,背光电流idark
需要仪器列表:
s型国产源表
积分球
可变光源
软件
高校相关专业
微电子,材料专业
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