氮化铝陶瓷的特性
大多数陶瓷是离子键或共价键极强的材料,具有较高的绝缘性能和优异的高频特性,同时线膨胀系数与电子元器件非常相近,化学性能非常稳定且热导率高,是电子封装中常用的基板材料。
长期以来,绝大多数大功率混合集成电路的基板材料一直沿用al₂o₃氧化铝和beo氧化铍陶瓷。但al₂o₃基板的热导率低,热膨胀系数和硅不太匹配。beo虽然具有优良的综合性能,但其较高的生产成本和剧毒的缺点限制了它的应用推广。因此,从性能、成本和环保等因素考虑,二者已不能完全满足现代电子功率器件发展的需要。
与之相比,氮化铝陶瓷导热率可以达到氧化铝陶瓷基覆铜板的10倍左右,线性膨胀系数与硅很接近,非常适用于半导体基板和结构封装材料。
多层陶瓷基板多采用氮化铝陶瓷基片来做,工艺一般分高温共烧htcc制作工艺和低温共烧ltcc制作工艺。氮化铝陶瓷覆铜板按照金属层厚度不同,采用的工艺一般有所不同。一般要做厚铜800um~100um, 多采用amb活性钎焊工艺,金属结合力更好;薄铜多采用dpc制作工艺,铜层较薄,最薄可以做1um的铜层,适合做精密线路。
以下是应用西斯特树脂刀切割氮化铝陶瓷覆铜板实例。
案例实录
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测试目的
1、测试正面背面切痕情况。
2、测试崩缺卷铜情况。
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材料情况
切割产品
陶瓷覆铜板
切割道表面材质
氮化铝陶瓷+铜
产品尺寸
115*75mm
产品厚度
0.35mm
胶膜类型
蓝膜
►
工艺参数
切割工艺
单刀切断
设备型号
dad321
主轴转速
28k rpm
进刀速度
5mm/s
刀片高度
0.05mm
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样刀准备
sstrp 1a8-sdc-500-50-m 56*0.15*40
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样刀规格
刀片尺寸
56*0.15*40
金刚石粒度
500#
结合剂强度
m(中)
集中度
50
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测试结果
1、正崩、侧崩、背崩均在崩缺控制范围内,正崩<25μm,侧崩<25μm,背崩<50μm。
2、倒膜检查背面整体刀痕平滑,侧面刀痕良好。
正面效果
背面效果
侧面效果
西斯特科技
深圳西斯特科技有限公司 (简称西斯特sst) ,以“让一切磨削加工变得容易”为主旨,倡导磨削系统方法论,2015年金秋创立于深圳,根植于技术创新的精神,屹立于创造价值、追求梦想的企业文化。
基于对应用现场的深度解读、创新性的磨具设计和磨削系统方法论的实际应用,西斯特秉承先进的磨削理念,践行于半导体、消费电子、汽车零部件等行业,提供高端磨具产品以及“切、磨、钻、抛”系统解决方案,在晶圆与封装基板划切、微晶玻璃和功能陶瓷磨削、汽车零部件精密磨削等领域应用广泛。
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