可穿戴设备的市场需求上升,离不开其功能的不断完善,与企业对可穿戴设备在出厂前的测试也密不可分。
可穿戴设备的特性之一就是较为小巧和便捷,内部空间零件密集,间距很小,这就需要用到专业的测试模组来对应小间距测试,起到一个导通作用,保证测试的稳定性。凯智通大电流弹片微针模组针对测试中小pitch的难题提供了稳定可靠的解决方案。
在pitch值≤0.2mm的领域中,弹片微针模组都能很好地应对,可取值最小可以达到0.15mm,连接稳定,可应对的pitch值范围通常在0.15mm-0.4mm之间。
传统的探针模组在小pitch领域的表现力很差,稳定性和寿命都远远不如弹片微针模组,有时甚至无法使用。探针模组能应对的pitch值在0.3mm-0.4mm之间,若是想通过小pitch领域的测试,只有把探针的尺寸缩小,但这也会遇到新的问题,例如容易卡pin、断针,对测试造成影响。
由此可见,传统的探针模组无法适应小pitch领域的测试,即使采取某些方法,也很难达到好的效果,甚至可能会拖慢测试进度。而凯智通大电流弹片微针模组在小pitch领域毫无阻碍,表现稳定,相当地优秀。
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