如何使用纳米功率EMI耐受型运算放大器改善IoT设计
物联网（iot）应用的设计者有两个主要关注点：管理电源以最大限度地延长电池寿命，并确保可靠的操作防止各种电磁干扰（emi）。物联网革命将导致部设数十亿电池和线路供电的连接设备，其中包括许多无线设备。所有这些设备都在争夺同一频率频谱。这将产生越来越嘈杂的环境，其中电磁波从多个源辐射。自从引入无线设备以来，电磁信号的干扰已成为共享的未许可频谱的问题，但当操作中的设备的数量增加时，问题的重要性也随之增加。诸如烟雾探测器、有毒气体传感器和pir传感器等具有无线能力的终端设备由于它们彼此相互作用，因此需要进行额外的辐射emi测试。
创建无线感测节点的竞争为emi测试带来了一定程度的复杂性。系统设计人员需要仔细甄选部件，以避免重新设计的昂贵成本，这可能在产品开发的最后阶段延迟上市时间。除在噪声条件下工作，电池供电的连接设备还需要可靠地操作多年而无需更换电池。物联网设备的电池寿命变化很大，从几小时到几年不等，具体取决于应用和其操作环境。这些iot设备的设计人员必须选择消耗极低电流的组件，以延长工作寿命并提供emi抗扰性。
ti的lpv811系列纳米功率放大器消耗低至320na的静态电流，以最大限度延长电池寿命，并内部保护免受emi。然而，这些设备并不包括在许多最近发布的运算放大器上所看到的全输入emi滤波器。我们在ti有意为之，因为添加输入emi滤波器大大增加了输入电容，这可能导致具有大反馈电阻值和源阻抗的亚微安电路中的峰值。相反，我们在lpv801、lpv802、lpv811和lpv812的布局和内部设计中采用了内部（专有）预防措施，使其尽可能对抗emi。
为了验证我们内置的emi缓和技术的有效性，我们对比了lpv802和不具备内部emi保护的两个流行的竞争设备。在所有条件下，使用lpv802的电路表现出比使用竞争设备的电路更好的emi抗扰性。我们根据iec 61000-4-3（电磁兼容性（emc）——辐射测试条件）测试了所有三个设备的emi耐受性。我们在80mhz至6ghz频率下将被测设备（dut）置于校准的射频（rf）范围，同时根据iec 61000-4-3 emc辐射规范监测dut的故障。为了对比这三个设备，我们在相同的电路中同时将所有三个设备暴露于相同的emc辐射。并监测其输出偏差。此外，为了测量常见emi滤波技术的有效性，我们测试了两组电路板，一组电路板增加了外部输入emi电容器；另一组电路板未装设emi电容器。
在标准62mil、双层fr4电路板上构建的测试板，其两侧带有接地层，以测试emi性能。四针连接器可快速更换电路板。插接传感器引脚可更容易地移除传感器。
有四个测试板测试emi性能。三个测试板具有相同电路，其上安装有不同的运算放大器。另外一个测试板以接地参考配置构建，但未在测试中使用。我们将四个测试板中的每一个通过1m长的四个导体屏蔽电缆连接到中心电池盒（2个aa电池）。电缆两端都有emi扼流圈。我们通过15米长的utp cat-5电缆将电池盒连接到控制室，并使用适当的emi扼流圈，以将输出电压供给测井系统。带有锥体的两个白盒为用于在测试期间监控电场的场传感器。
在30v / m辐射水平，两个竞争设备在140mhz时开始减弱，而lpv802保持到100mhz。一般来说，使用lpv802的电路的emi性能优于使用竞争设备，这针对不同辐射水平下进行的所有规定测试，特别是在100-200mhz范围内进行的测试。所有设备大多不受上（> 400mhz）频率的影响。
添加外部emi输入电容也有助于整体性能。我建议在正常设计过程中将其添加。emi保护不能完全消除emi的影响，但它确实有助于降低影响。
添加外滤可进一步降低影响。即使使用受emi保护的设备，我仍建议进行外部滤波。
使用诸如消耗纳安培静态电流及抗emi的lpv801、lpv802、lpv811和lpv812的部件，可以帮助设计人员构建具有更长电池寿命并符合全球emi规定的系统。这有助于降低维护成本，提高上市时间。此外，若在产品开发最后阶段emi出现故障，也无需耗费巨资进行重新设计。
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为了验证我们内置的emi缓和技术的有效性，我们对比了lpv802和不具备内部emi保护的两个流行的竞争设备。在所有条件下，使用lpv802的电路表现出比使用竞争设备的电路更好的emi抗扰性。我们根据iec 61000-4-3（电磁兼容性（emc）——辐射测试条件）测试了所有三个设备的emi耐受性。我们在80mhz至6ghz频率下将被测设备（dut）置于校准的射频（rf）范围，同时根据iec 61000-4-3 emc辐射规范监测dut的故障。为了对比这三个设备，我们在相同的电路中同时将所有三个设备暴露于相同的emc辐射。并监测其输出偏差。此外，为了测量常见emi滤波技术的有效性，我们测试了两组电路板，一组电路板增加了外部输入emi电容器；另一组电路板未装设emi电容器。
在标准62mil、双层fr4电路板上构建的测试板，其两侧带有接地层，以测试emi性能。四针连接器可快速更换电路板。插接传感器引脚可更容易地移除传感器。
有四个测试板测试emi性能。三个测试板具有相同电路，其上安装有不同的运算放大器。另外一个测试板以接地参考配置构建，但未在测试中使用。我们将四个测试板中的每一个通过1m长的四个导体屏蔽电缆连接到中心电池盒（2个aa电池）。电缆两端都有emi扼流圈。我们通过15米长的utp cat-5电缆将电池盒连接到控制室，并使用适当的emi扼流圈，以将输出电压供给测井系统。带有锥体的两个白盒为用于在测试期间监控电场的场传感器。
在30v / m辐射水平，两个竞争设备在140mhz时开始减弱，而lpv802保持到100mhz。一般来说，使用lpv802的电路的emi性能优于使用竞争设备，这针对不同辐射水平下进行的所有规定测试，特别是在100-200mhz范围内进行的测试。所有设备大多不受上（> 400mhz）频率的影响。
添加外部emi输入电容也有助于整体性能。我建议在正常设计过程中将其添加。emi保护不能完全消除emi的影响，但它确实有助于降低影响。
添加外滤可进一步降低影响。即使使用受emi保护的设备，我仍建议进行外部滤波。
使用诸如消耗纳安培静态电流及抗emi的lpv801、lpv802、lpv811和lpv812的部件，可以帮助设计人员构建具有更长电池寿命并符合全球emi规定的系统。这有助于降低维护成本，提高上市时间。此外，若在产品开发最后阶段emi出现故障，也无需耗费巨资进行重新设计。
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