异质结双极晶体管,异质结双极晶体管是什么意思
异质结双极晶体管(hetero-junction bipolar transistor,简称hbt)基区(base)异质结sige外延(图1):其原理是在基区掺入ge组分,通过减小能带宽度,从而使基区少子从发射区到基区跨越的势垒高度降低,从而提高发射效率γ, 因而,很大程度上提高了电流放大系数β。在满足一定的放大系数的前提下,基区可以重掺杂,并且可以做得较薄,这样就减少了载流子的基区渡越时间,从而提高器件的截止频率ft (cut-off frequency),这正是异质结在超高速,超高频器件中的优势所在。
异质结双极晶体管hbt(heterojunctionbipolortransistar)是指发射区、基区和收集区由禁带宽度不同的材料制成的晶体管.异质结双极晶体管与传统的双极晶体管不同,前者的发射极材料不同于衬底材料,后者的整个材料是一样的,因而称为异质结器件。异质结双极晶体管的发射极效率主要由禁带宽度差决定,几乎不受掺杂比的限制。这就大大地增加了晶体管设计的灵活性。
1998年10月ibm首次量产锗硅异质结双极晶体管(sige hbt)。由于sige hbt具有gaas的性能,而与硅工艺的兼容性又使其具有硅的低价格,因此sige技术获得了长足的进展, sige hbt技术已成为rf集成电路市场的主流技术之一,并对现代通信技术的发展产生了深远的影响。hbt基的射频集成电路(rfic)已在蜂窝移动电话末级功率放大器、基站驱动级、有线电视的光纤线路驱动器上获得成功,证明hbt的性能比通用的mesfet的性能更好。
异质结双极晶体管类型很多,主要有sige异质结双极晶体管, gaalas/gaas异质结晶体管,和npn型ingaasp/inp异质结双极晶体管, npn algan/gan异质结双极晶体管等.
异质结双极晶体管是纵向结构的三端器件,发射区采用轻掺杂的宽带隙半导体材料(如gaas、inp),基区采用重掺杂的窄带隙材料(如algaas、ingaas)。δeg的存在允许基区比发射区有更高的掺杂浓度,因而可以降低基极电阻,减小发射极-基极电容,从而能得到高频、高速、低噪声的性能特点。由于δeg>0、并且有一定的范围,所以电流增益也很高,一般直流增益均可做到60以上。特别值得指出的是,用ingaas作基区,除了能得到更高的电子迁移率外,还有较低的发射极-基极开启电压和较好的噪声特性。它的阈值电压严格的由δeg决定,与普通的fet的阈值电压由其沟道掺杂浓度和厚度决定相比容易控制、偏差小且易于大规模集成。这也是hbt重要的特点。hbt的能带间隙在一定范围内可以任意地进行设计。
异质结双极晶体管的结构特点是具有宽带隙的发射区,大大提高了发射结的载流子注入效率。hbt的功率密度高,相位噪声低,线性度好,单电源工作,虽然其高频工作性能稍逊于phemt,但它特别适合在低相位噪声振荡器、高效率功率放大器、宽带放大器中应用。
下表是rf ic的几种工艺的性能比较:
最近几年,除gaas基的hbt已达到了相当好的速度,如ft=170ghz以外,inp基的hbt发展也很快,其最好的器件ft及fmax已超过200ghz,sigehbt则是近年来人们十分重视的器件;主要原因是硅的vlsi发展已很成熟,sigehbt可以借用vlsi的工艺较快用到微电子领域。近几年已有报导采用商用的超高真空cvd(uhvcd)设备在8″cmos线上制作的sige外延材料制作的hbt,形成12位数模转换器,其工作速度达1ghz,比硅器件要快很多,而功耗延迟乘积也优于已实用的三五族化合物材料的异质结器件。
典型的ingaas/inp 单和双异质结二级型晶体管(shbt和dhbt)如下图:
shbt和dhbt由多种材料的化合物制成,起始于磷化铟衬底。
ingaas/inp是一种很重要的hbt材料.ingaas/inp相比于其他材料的优点:
ingaas中的高电子迁移率(gaas中的1.6倍,si中的9倍)。瞬时电子过冲的程度也比gaas中的大。所以可以得到较高的ft值。
ingaas的能带隙比si和gaas的窄,可以制造有低开启电压( vbe)和低功率耗散的磷化铟hbt。
对于给定的掺杂级,磷化铟有较高的击穿电场。
ingaas表面的复合速度(10^3cms^-1)比gaas表面的(10^6cms^-1)小得多。减小了发射极周围由表面复合速度引起基极电流。
比gaas高的衬底导热率(0.7vs0.46wcm/k)。
这种器件与光源和1.3μm 波长辐射的光电探测器直接兼容,相当于基于si的光纤中的最低色散波长。所以它对oeic集成很有用。
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