1 摘要
本应用笔记主要介绍 hc32f460 系列 mcu 的片上温度传感器 ots 的特点、使用方法及注意事项。
2 简介
hc32f460 系列 mcu 的片上温度传感器 ots,可实时获取芯片内部的温度,以支持系统的可靠性设计。ots 不需要 adc 的参与,使用时只需直接读取寄存器,算术运算后即可得到温度值,不使用的时候可关闭以减少系统功耗。
3 定标实验
要想获得准确的温度值,有两个参数非常重要,一个是温度斜率 k,一个是温度偏移量 m。这两个参数需要用户通过定标实验来得到,然后保存起来,供后续使用。参数 k 和 m 不具有通用性,每颗芯片都需要做定标实验;ots 可选择外部晶振 xtal 或内部高速晶振 hrc,两种晶振测得的 k 和 m 也不具有通用性。
3.1 实验条件
定标实验需要一个高低温箱,一个数字温度计(用来获取高低温箱内的准确温度值,如果高低温箱的温度足够精准,则不需要),串口调试工具(用来观察实验数据)。推荐用户在 25℃和 105℃这两个温度值上做定标实验。
3.2 实验步骤
定标实验例程 ots_05_scaling_experiment 中设置有定标实验的触发方式,例程中用的是按键 (引脚 pc1)按下并释放作为触发方式,之所以设置触发方式,是为了让实验是可控制的。用户可根据自己的实际需求,修改触发方式。具体实验步骤如下。
1. 修改好触发方式后,重新编译工程,并下载到目标板;
2. 将目标板和数字温度计放入高低温箱,设置高低温箱温度为 25℃,并启动高低温箱;
3. 待高低温箱温度稳定在 25℃约 5 分钟后,触发定标实验运行;
4. 通过串口调试助手可获得一个参数 a,记为 a1,并记录当前高低温箱的实际温度为 t1;
5. 将高低温箱温度设置为 105℃并运行;
6. 待高低温箱温度稳定在 105℃约 5 分钟后,触发定标实验运行;
7. 通过串口调试助手可获得一个参数 a,记为 a2,并记录当前高低温箱的实际温度为 t2;
8. 通过下面两个公式可得 k 和 m:
k = (t2 – t1) / (a2 – a1);
m = t1 – k × a1 = t2 – k × a2;
本实验例程会输出 xtal 和 hrc 对应的参数 a,用户可根据实际需求计算对应的 k 和m。
9. 修改 hc32f46x_ots.c 中 k 和 m 的值,利用例程 ots_01_base 便可验证参数的准确性;
10. 用户可将 k 和 m 保存至 flash,以备后续使用;
11. 定标实验结束。
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