PCB MIG(离子迁移)与CAF(玻纤纱阳极性漏电)现象分析

pcb为确保其长时间使用质量与可靠度,需进行sir (surface insulation resistance)表面绝缘电阻的试验,透过其试验方式找出pcb是否会发生mig(离子迁移)与caf(玻纤纱阳极性漏电)现象,离子迁移与是在加湿状态下(如:85℃/85%r.h.),施加恒定偏压(如:50v),离子化金属向相反电极间移动(阴极向阳极生长),相对电极还原成原来的金属并析出树枝状金属的现象,常造成短路,离子迁移非常脆弱,在通电瞬间产生的电流会使离子迁移本身溶断消失,mig与caf常用的规范:ipc-tm-650-2.6.14.、ipc-sf-g18、ipc-9691a、ipc-650-2.6.25、mil-f-14256d、iso 9455-17、jis z 3284、jis z 3197…等,但其试验时间常常一次就是1000h、2000h,对于产品的周期性来说缓不应急,而hast是一种试验手法也是设备名称,hast是提高环境应力(温度&湿度&压力),在不饱和湿度环境下(湿度:85%r.h.)加快试验过程缩短试验时间,用来评定pcb压合&绝缘电阻,与相关材料的吸湿效果状况,缩短高温高湿的试验时间(85℃/85%r.h./1000h→110℃/85%r.h./264h),pcb得hast试验主要参考规范为:jesd22-a110-b、jpca-et-01、jpca-et-08。
应力与老化程度及加速时间示意图
故障
hast加速寿命模式:
★提高温度(110℃、120℃、130℃)
★维持高湿(85%r.h.)
★施加压力(110℃/85%/0.12mpa、120℃/85%/0.17mpa、130℃/85%/0.23mpa)
★外加偏压(dc直流电)
pcb的hast测试条件:
1.jpca-et-08:110、120、130 ℃/85%r.h. /5~100v
2.高tg环氧多层板:120℃/85%r.h./100v,800小时
3.低诱电率多层板:110℃/85% r.h./50v/300h
4.多层pcb配线材料:120℃/85% r.h/100v/800 h
5.低膨胀系数&低表面粗糙度无卤素绝缘材料:130℃/ 85 % r.h/12v/240h
6.感旋光性覆盖膜:130℃/ 85 % r.h/6v/100h
7.cof膜用热硬化型板:120℃/ 85 % r.h/100v/100h


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