自主的RF测量助手可降低测试成本并提高准确性
自主射频测量助手可在多个温度范围内实现完全自主，免提的射频校准和测量。它具有独特的contact intelligence™技术，可降低测试成本并以提高的准确性和缩短的设计周期缩短产品上市时间。
在多个温度下测试rf器件是一项挑战。您需要考虑校准漂移，测试设置的扩展或收缩，以及缩小器件焊盘以节省占用空间并最小化焊盘寄生效应。在多个温度下进行测试需要持续监控和重新调整校准 – 这是一项耗时且要求极高的任务。更重要的是，新的rf设备适用于诸如此类的应用5g，自动驾驶和下一代wi-fi，需要为其ic设计提供最准确的设备模型。
为了克服这些挑战，我们已经介绍了自主射频测量助手提高精度和生产率，同时最大限度地减少培训需求并加快产品上市时间。这代表的一些行业第一包括：
真正的自动，免提校准 监控校准漂移和自动重新校准 全面管理系统扩展 在所有温度下精确且可重复的探头定位 作为我们的一部分联系intelligence™技术，自主射频测量助手专门设计用于自动执行整个校准，测量和监控任务，这些任务通常由经验丰富的工程师手动执行。它提供了许多好处，包括：
便于使用。没有经验的操作员只需按下按钮即可执行rf校准，从而减少了对每个系统上经验丰富（且成本高昂）的全职用户的需求。 校准监视器和重新校准。系统将持续监控校准漂移，并在漂移超过预定限制时自动重新校准。 数据量。无人值守测试允许更多工具利用而无需额外的时间和金钱。 无人值守使用。测量可以在一夜之间运行，测试晶圆上的所有器件，并且在不需要操作员的情况下在不同温度下测试。 减少浸泡时间。如果探头偏离对准，系统将重新对准探头，减少测试时间，同时提高吞吐量。 只有自主射频测量助手，以及它与formfactor的组合先进的可编程定位器，独特的evue显微镜，velox 探针台控制软件和wincal xe高性能rf校准软件可在多个温度下实现rf设备的完全自主，免提校准和测量。它利用了cm300xi，summit200，峰会12000或elite 300探测台，降低测试成本并加快产品上市时间。一个成功的组合！
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