调整用于测试芯片的电压

客户挑战
随着测试的 ic 引脚的数量不断增加,出于成本考虑,每分钟所测试的芯片数量也必须增加。这需要对测试设备的硬件进行大幅调整。测试头本身必须测试更多引脚,必须更快移动,而且还必须提供不同的测试电压。测试头的尺寸和重量是实现这些改进至关重要的因素。即便电源具有更高效率及更小尺寸的相同拓扑,也会造成组件的更高工作温度,因而可降低可靠性,这是一天 24 小时全天候运行的系统所无法接受的。
另一项挑战是必须调整用于测试芯片的电压,才能满足不同芯片的需求。
解决方案
分比式电源的使用帮助客户减小了负载本身各转换级的尺寸、重量以及热量的产生。将稳压 (prm) 与变压 (vtm) 分开,并在负载点上只提供变压部件 (vtm),与该端口的全面转换器级相比,不仅可明显降低负载点所产生的功耗,而且还可显著缩小转换器的尺寸。稳压本身可以出现在远离负载点的另一端。
结论
vtm 支持高开关频率,因而支持极高的功率密度,是非常小巧的轻量级组件。这是用来减轻测试头重量的主要组件。vtm 极高的效率不仅降低了测试头上所生成的热量,而且还确保满足了这种环境下所需的高可靠性及平均故障间隔时间 (mtbf) 值要求。
fpa 分比式电源通过对 prm 母线电压的调整实现对负载电压的稳压。在测试具有不同电压需求的芯片时,这可避免高昂的准备成本或更换设备。
产品系列的主要规格
prm 稳压模块
输入电压:48v, (36 – 75v)
输出电压:48v
输出功率高达:600w
效率高达:97%
尺寸:32.5 x 22.0 x 6.73 mm
vtm 电流倍增器
输入电压:0 – 60v
输出电压:0 – 55v
输出电流高达:135a
效率高达:96%
尺寸:32.5 x 22.0 x 6.73 mm


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