安森美半导体推出dToF激光雷达方案，满足测距应用的关键需求
推动高能效创新的安森美半导体 （on semiconductor，美国纳斯达克上市代号：on），推出了由该公司硅光电倍增管 （sipm） 技术实现的单点直接飞行时间 （dtof） 的激光雷达方案。
光检测和测距或激光雷达的应用在所有领域都在增长，包括机器人和强制要求毫米范围精度的工业接近感知。它通常基于dtof方法，测量通常在近红外 （nir） 波长范围内的一个光脉冲往返于一个物体所需的时间。
尽管原理很简单，但其应用可能会带来挑战性，例如周围太阳光较强等环境因素。为了准确确定范围，接收器需要捕获尽可能多的信号。就响应时间和灵敏度而言，传统的光电二极管在这方面会受到影响。安森美半导体开发的硅光电倍增管 （sipm） 传感器提供更快的响应时间和高检测效率，克服了这些不足。该参考平台使用安森美半导体第二代sipm 传感器rb系列，在红色和nir范围都带来更高的性能。
安森美半导体开发的sipm dtof激光雷达平台提供低成本、单点激光雷达的完整方案，原始设备制造商 （oem） 可灵活调整并投入生产，以创建工业测距应用。它包括nir激光二极管、sipm传感器和光学器件，以及将检测到的信号转换为经过时间，以及将经过时间转换为距离所需的数字处理。
为加快客户的上市时间，安森美半导体提供该参考平台的所有设计数据，涵盖原理图、物料单 （bom） 、gerber文件和pcb设计文件。客户还可以访问基于pc的图形用户接口（gui），提供随时间变化的测量结果的图形。生成的直方图进一步证明该系统在测距、碰撞检测和3d制图等应用的能力。
安森美半导体物联网主管wiren perera说：“使用dtof激光雷达进行测距，满足了许多应用的关键需求，从自主导航到地图绘制到监控。但是，开发基于dtof激光雷达的系统可能具有挑战性。我司的这个平台显然证实这领先技术的效用。有了经验证的设计，客户就能更快地进行概念验证，并迅速将产品推向市场。”
sipm dtof激光雷达平台可检测10厘米至23米距离的物体。使用提供的gui提供开箱即用的体验，使工程师可以立即开始评估该技术。该设计已获得美国食品和药物管理局 （fda） 一类认证，并符合iec / en 60825-1:2014和21 cfr 1040．10 / 1040．11激光安全标准。
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