※超低功耗spad array(60mw),采用先进3d堆叠式结构,极大的缩小了芯片面积,从而改善性能、节省功耗,为终端用户创造更大价值。
※ 拥有最新背照式bsi spad 传感器技术与深隔离槽dti工艺, 相较于传统fsi技术提升近7倍的探测效率。
※ 光飞行时间探测性能优化升级,实现实时飞行时间记录,大幅度解决了因环境光造成的光子堆积问题。
业界领先的dtof芯片设计公司芯视界微电子近期宣布推出global shutter bsi spad芯片——全新堆叠式dtof深度传感器va6320。该传感器尺寸小巧,支持1200点分辨率, 60fps帧率,为摄影、ar/vr等应用设备提供低成本、高性能的解决方案。
近年来,智能手机、ar/vr等设备
在电子消费领域广受追捧
尤其是作为“元宇宙”入口的ar/vr
也因“元宇宙”的飞速发展冲上高速
作为光学传感器芯片领导者
芯视界为移动、ar/vr领域
打造全新堆叠式dtof深度传感器va6320
以实现更高性能的距离传感
助力移动、ar/vr等行业快步前行
芯视界-va6320
vs
苹果-lidar scanner
芯视界微电子芯片研发部首席架构师ben表示:
与2020年苹果公司发布的lidar scanner的散斑技术不同,va6320采取了flash激光照明方案,从成本、体积大小及功耗上评估,vi6320都更胜一筹,并且具备更多样化系统的适配性。va6320提供1200点的精确深度信息,搭配多传感器融合算法, 可产生足够的稠密点云,为应用设备提供可靠的距离传感。
全方位性能升级
先进
※ va6320采用业界先进的3d堆栈式结构, 透过晶圆级cu-cu金属混合键,将传感器晶圆与影像处理逻辑晶圆做结合。在减少芯片面积的同时,能针对传感器与逻辑电路不同的特性,采用不同的工艺设计, 做到性能与功耗的整体提升。
创新
※ 采用芯视界最新的背照式bsi spad 传感器技术与深隔离槽dti工艺, 相较于传统fsi技术提升近7倍的探测效率。可提供近红外波段优异的探测性能, 并且降低像素间的光学串连,pde探测性能优于业界水准。
※ va6320逻辑部分集成了动态电源管理模块、高效能tdc、dsp运算模块、全局曝光 (global shutter)架构等创新设计。一次性可完成1200点的深度探测,实现高帧率, 短曝光, 低功耗的优异性能。
优化
※ 在光飞行时间探测上, 透过tdc与逻辑模块的优化, 实现实时飞行时间纪录, 大幅度解决了因环境光造成的光子堆积 (pile-up)问题,具备极强抗阳光性能。
※ 片上集成芯视界 gen2 dsp 深度信号处理模块, 提升精度与抗环境噪声能力。搭配mipi接口, 能输出60fps亞毫米级精度的深度点云信息, 同时也提供原帧率下直方图的输出能力, 为后端算法提供更多延展性。
模组说明
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