某智能手表在USB接口外壳打ESD造成黑屏死机问题
某智能手表在侧键附近打esd后出现反复开关机现象
根据反复重启的时间判断，类似于长按power键。检查power_on信号，发现已经被持续拉低，power_on信号的原理图如下：
为了降成本，位置1并没有贴tvs管，而是用一个电容代替，电容的耐压值是25v。失效的机器，这个电容已经短路，可以判断esd进入壳体，直接打坏了位置1的电容。
如果把位置1的电容耐压提高到50v，能抗的esd测试次数会增多，但最终还是会坏。这个项目不是防水的，缝隙较大，密封性不是特别好，所以才有问题。
【解决方法】
把位置1的电容换成tvs管，或者位置1不要贴任何东西，在位置2放一个1nf的电容。靠1k电阻+1nf电容来吸收esd能量。
另外，在侧键的fpc附近，增加了gnd露铜区域，引导esd先进入gnd。这也是一种低成本的解决方法，如果esd能量足够大，实测几乎可以把1k电阻打坏。
某智能手表在usb接口外壳打esd造成黑屏死机问题
充电口是micro-b型usb接口，接触放电±10kv，会出现黑屏，死机，闪屏等现象。
抓死机log，没有发现什么端倪。
将usb信号逐个引出，vbus，d+，d-都没有出现问题，打id管脚，会出现类似现象。打gnd，会很低概率出现类似现象。遂将问题定位到id管脚，和gnd上。
仔细检查usb接口附件的layout，问题如下：
1、usb_id管脚是悬空的。
2、在l3和l6层，靠近usb接口，有与屏相关的敏感信号。
悬空的id管脚是知名威胁，静电积累到一定程度，肯定会对周围放电，二次放电的威力更大。
usb周围的有敏感信号，在打esd时，附近的gnd电平瞬间局部抬高，尤其是看到usb接口的屏蔽壳跟表层相连，周围没有非常多的过孔打到内层gnd，这更加重了gnd局部电平的提高，这会干扰到这些敏感信号，导致死机，黑屏，闪屏问题。
【解决方法】
usb的固定pin以及gnd pin，只接主gnd，不要每一层都接gnd。mipi，lcd_te，lcd_rst远离usb接口。
某智能手表屏幕朝下，打后壳会黑屏
这是一个spi接口的显示屏，问题比较简单，一个偶然的机会发现是spi信号中，cs线被软件强制拉低，且一直处于低的状态，这样是不行的。
实测将cs线的行为改成符合spi协议，只在传输数据时拉低，这个黑屏的问题解决了。
某智能手表在usb的gnd pin上注入接触-8kv静电，会概率关机
首先抓取了log分析，没有发现什么线索。
直接拆开整机，在主板的不同地方的gnd，注入esd，统计关机的次数，得出一个简单的规律，只有在靠近电池btb的地方，才会大概率出现，初步判断是esd干扰了电池周围的信号。
电池btb周围的信号有d+，d-，vbus，mipi，bat_id，bat_therm等，逐个在这些信号上，注入小两级的esd，比如±2kv，有些信号会导致pmu损坏，有些会导致死机。只有bat_id信号会出现关机的现象。
关机有两种可能，一是内部软件主动关机，二是电池突然掉电。尤其是第二种，往往很容易忽略。因为某些情况下，esd注入两枪，立即就出现了关机现象，这很像是电池掉电了。
电池掉电有两种可能，一是电池保护板保护机制生效，切断了供电。二是vbat到pmu的通路被打断。
排查了主板上的器件，vbat的通路经过的都是一些模拟器件，可能性比较小。
我们直接从主板vbat飞线，连接到程控电源上，再进行esd测试，发现就不会关机了。这进一步说明，在注入esd时，是电池本身没有输出了。
电池保护板的原理图如下：
在图中gnd上注入+8kv，没有问题，因为右边的tvs吸收了大部分能量，由于正向导通，钳位电压较低（小于4.4v），电池保护板没有触发保护机制。但是如果注入-8kv，tvs管开始反向钳位，瞬间的钳位电压较高（大于4.4v），超过电池起保护电压，电池触发保护机制，mos管u2断开，导致关机。下图是tvs管的钳位特性，也能佐证这个结论。
注意电池保护板的保护ic，是判断c1两端的电压，来决定是否起保护的。所以要解决这个问题，需要增大c1的电容值。实测将c1增大到1uf，关机的概率明显降低了。
降低了，但没有彻底解决问题，肯定还有其他原因。这个原因是先猜出来，然后试验验证的。
上文提到只有bat_id信号会出现关机的现象。所以猜测静电耦合到了id管脚，进入pmu导致关机。
下面是这次电池保护板的走线，id的走线与gnd有较长的耦合长度，gnd上的瞬间能量能很快耦合到这根线上，最终直接进入到pmu。
虽然主板上id走线也跟gnd有很长的耦合距离，但是主板上的gnd与vbat之间有tvs钳位，gnd的电压不至于跳变太厉害，也不会耦合很多能量到id线上。反而是电池fpc上的gnd电平跳动最大，id线在fpc上耦合的能量更多。
fpc改版成如下样式，id和gnd基本没有重叠区域，能量也不会耦合到id管脚上，再也没有出现过关机问题。
屏幕朝下，esd接触放电后壳，tp失效
经检查，确定是tp ic被打坏。没有仔细分析ic损坏的原因，因为发现tp fpc背后的导电双面胶太弱，根本没有粘到gnd上。tp没有很好接地，导致了这个问题。
只要tp接地良好，应该不会出现tp ic失效问题。
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如果把位置1的电容耐压提高到50v，能抗的esd测试次数会增多，但最终还是会坏。这个项目不是防水的，缝隙较大，密封性不是特别好，所以才有问题。
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另外，在侧键的fpc附近，增加了gnd露铜区域，引导esd先进入gnd。这也是一种低成本的解决方法，如果esd能量足够大，实测几乎可以把1k电阻打坏。
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抓死机log，没有发现什么端倪。
将usb信号逐个引出，vbus，d+，d-都没有出现问题，打id管脚，会出现类似现象。打gnd，会很低概率出现类似现象。遂将问题定位到id管脚，和gnd上。
仔细检查usb接口附件的layout，问题如下：
1、usb_id管脚是悬空的。
2、在l3和l6层，靠近usb接口，有与屏相关的敏感信号。
悬空的id管脚是知名威胁，静电积累到一定程度，肯定会对周围放电，二次放电的威力更大。
usb周围的有敏感信号，在打esd时，附近的gnd电平瞬间局部抬高，尤其是看到usb接口的屏蔽壳跟表层相连，周围没有非常多的过孔打到内层gnd，这更加重了gnd局部电平的提高，这会干扰到这些敏感信号，导致死机，黑屏，闪屏问题。
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这是一个spi接口的显示屏，问题比较简单，一个偶然的机会发现是spi信号中，cs线被软件强制拉低，且一直处于低的状态，这样是不行的。
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电池btb周围的信号有d+，d-，vbus，mipi，bat_id，bat_therm等，逐个在这些信号上，注入小两级的esd，比如±2kv，有些信号会导致pmu损坏，有些会导致死机。只有bat_id信号会出现关机的现象。
关机有两种可能，一是内部软件主动关机，二是电池突然掉电。尤其是第二种，往往很容易忽略。因为某些情况下，esd注入两枪，立即就出现了关机现象，这很像是电池掉电了。
电池掉电有两种可能，一是电池保护板保护机制生效，切断了供电。二是vbat到pmu的通路被打断。
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我们直接从主板vbat飞线，连接到程控电源上，再进行esd测试，发现就不会关机了。这进一步说明，在注入esd时，是电池本身没有输出了。
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