利用ATE（自动测试设备）测试电源负载的数字可编程精密电阻

图1所示的数字可编程精密电阻可在定制设计的 ate（自动测试设备）中用作微处理器驱动的电源负载。ic1 是一个 8 位电流输出型 dac，即dac08型dac ，它驱动电流-电压变换器 ic2a，ic2a又驱动功率 mosfet q1 的栅极。被测器件连接到 j1 和 j2。在工作时，来自被测器件的电流在采样电阻 r8a 和 r8b 上形成一个电压。放大器 ic2b 驱动 ic1 的基准输入端，并使反馈路径闭合。当 r8a 和 r8b 上的压降达到 q2 的 vbe(on) 时，晶体管 q2 分流 q1 的栅极驱动电流，提供过流保护功能。vo 和 io 分别为输出电压和输出电流，n 代表加到 ic1 的二进制输入的等效十进制值，a 是放大级 ic2b 的增益。r1由 r1a 和 r1b 并联组成。公式 1 描述了电路的负载电流：
求方程 2 的解就可得到电路的输出电阻：
采用图中所示元件参数值，电路的等效电阻范围从全“0”二进制输入（即 n=0）的 5.5ω左右至全“ 1” 二进制输入（即 n =255）的255ω。
你可以修改电路的元件参数值来覆盖其它电阻范围。将 8 位 dac08 换成 10 位 d/a 转换器可提高电阻精度。为了加大电路的功率承受能力，可用更大功率的 mosfet和一个合适尺寸的散热器替换 q1。电容器c3 和 c4 控制电路的带宽。